Scanning electron microspcope for capturing diffraction patterns

WO2025242697 Art A1 27. November 2025

Anmelder: FEI COMPANY 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2025242697
Aktenzeichen: EP25725833
Anmeldetag: 21. Mai 2025
Veröffentlichung: 27. November 2025
Rechtsraum: WO
IPC: H01J37/22H01J37/26

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: FEI COMPANY
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 FEI Company

US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.

882 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

Vertreten von