Precision measuring device and precision measuring method
WO2025243745
Art A1
27. November 2025
Anmelder: TOHOKU UNIVERSITY 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2025243745
- Aktenzeichen
- EP25807479
- Anmeldetag
- 18. April 2025
- Veröffentlichung
- 27. November 2025
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01B9/02015G01B9/02003
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- TOHOKU UNIVERSITY
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Tohoku University
Staatliche Universität in Sendai, Japan, mit Forschungsschwerpunkten unter anderem in Materialwissenschaften und Werkstofftechnik.
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Fachgebiete
Vertreten von
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