Method and testing system for testing semiconductor chip packages

WO2025245689 Art A1 4. Dezember 2025

Anmelder: YANGTZE MEMORY TECHNOLOGIES CO., LTD. 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2025245689
Aktenzeichen: EP24733509
Anmeldetag: 28. Mai 2024
Veröffentlichung: 4. Dezember 2025
Rechtsraum: WO
IPC: G01R1/04G01R31/28G01R1/073

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: YANGTZE MEMORY TECHNOLOGIES CO., LTD.
Land: 🇨🇳 China

🇨🇳 Yangtze Memory Technologies

Chinesisches Unternehmen aus Wuhan, das NAND-Flash-Speicherchips entwickelt und produziert.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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