A measuring system for measuring a distance of a gap between a donor substrate and a target substrate, and a corresponding control system as well as related methods

WO2025247494 Art A1 4. Dezember 2025

Anmelder: NEXPERIA B.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2025247494
Aktenzeichen: EP24730665
Anmeldetag: 30. Mai 2024
Veröffentlichung: 4. Dezember 2025
Rechtsraum: WO
IPC: G01B11/02G01B11/06G01B11/14G01B11/26H01L23/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: NEXPERIA B.V.
Land: 🇳🇱 Niederlande

🇳🇱 Nexperia

Der Anmelder ist ein niederländischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Nijmegen, der als Ausgründung aus NXP Semiconductors hervorging. Das Patentportfolio konzentriert sich stark auf Halbleiter- und Elektrobauelemente, ergänzt durch Elektronik, Schaltungstechnik und elektrische Energietechnik. Anmeldungen laufen seit 2009 durchgehend fort.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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