Detecting Defects in Semiconductor Devices Based On Images Of Said Semiconductor Devices in an Inspection Process

WO2025247505 Art A1 4. Dezember 2025

Anmelder: NEXPERIA B.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2025247505
Aktenzeichen: EP24739409
Anmeldetag: 31. Mai 2024
Veröffentlichung: 4. Dezember 2025
Rechtsraum: WO
IPC: G06V10/82G06T7/00G06V30/10

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: NEXPERIA B.V.
Land: 🇳🇱 Niederlande

🇳🇱 Nexperia

Der Anmelder ist ein niederländischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Nijmegen, der als Ausgründung aus NXP Semiconductors hervorging. Das Patentportfolio konzentriert sich stark auf Halbleiter- und Elektrobauelemente, ergänzt durch Elektronik, Schaltungstechnik und elektrische Energietechnik. Anmeldungen laufen seit 2009 durchgehend fort.

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