Method for determining a thickness map of a layer to be measured
WO2025252555
Art A1
11. Dezember 2025
Anmelder: CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE 🇫🇷
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2025252555
- Aktenzeichen
- EP25728142
- Anmeldetag
- 27. Mai 2025
- Veröffentlichung
- 11. Dezember 2025
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01B11/06
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE
- Land
- 🇫🇷 Frankreich
🇫🇷
Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
Französische staatliche Forschungsorganisation mit Sitz in Paris. Betreibt Grundlagen- und angewandte Forschung in nahezu allen wissenschaftlichen Disziplinen über zahlreiche Institute und Labore.
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