Method for determining a thickness map of a layer to be measured

WO2025252555 Art A1 11. Dezember 2025

Anmelder: CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE 🇫🇷

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2025252555
Aktenzeichen
EP25728142
Anmeldetag
27. Mai 2025
Veröffentlichung
11. Dezember 2025
Rechtsraum
WO
IPC
G01B11/06
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE
Land
🇫🇷 Frankreich
🇫🇷 Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)

Französische staatliche Forschungsorganisation mit Sitz in Paris. Betreibt Grundlagen- und angewandte Forschung in nahezu allen wissenschaftlichen Disziplinen über zahlreiche Institute und Labore.

13.133 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Kein Vertreter erfasst.

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen