Conveyance device, specimen analysis system including same, and abnormality detection method in conveyance device

WO2025253761 Art A1 11. Dezember 2025

Anmelder: HITACHI HIGH-TECH CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2025253761
Aktenzeichen: EP25819524
Anmeldetag: 7. April 2025
Veröffentlichung: 11. Dezember 2025
Rechtsraum: WO
IPC: H02P25/06B65G54/02G01B7/00G01N35/04H02K41/00

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: HITACHI HIGH-TECH CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hitachi High-Tech Corporation

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

3.840 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Elektrische Energietechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Verpackungs- & Fördertechnik

Vertreten von