Film thickness deviation measuring method, film thickness deviation measuring device, film manufacturing method, and film manufacturing device

WO2025253798 Art A1 11. Dezember 2025

Anmelder: JFE STEEL CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2025253798
Aktenzeichen: EP25819560
Anmeldetag: 21. April 2025
Veröffentlichung: 11. Dezember 2025
Rechtsraum: WO
IPC: G01B11/06B29C48/31B29C48/92

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: JFE STEEL CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 JFE Steel

Japanischer Stahlkonzern mit Sitz in Tokio, entstanden aus Fusion von NKK und Kawasaki Steel, tätig in Produktion von Flach- und Langstahlerzeugnissen für Automobil-, Bau- und Schiffbauindustrie.

5.178 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Kunststoff- & Polymertechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von