Automatic analysis device and noise detection method for automatic analysis device

WO2025258229 Art A1 18. Dezember 2025

Anmelder: HITACHI HIGH-TECH CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2025258229
Aktenzeichen: EP25821580
Anmeldetag: 21. April 2025
Veröffentlichung: 18. Dezember 2025
Rechtsraum: WO
IPC: H04B3/46G01N35/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: HITACHI HIGH-TECH CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hitachi High-Tech Corporation

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation

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