Automatic analysis device, abnormality detection system, and abnormality detection method

WO2025258698 Art A1 18. Dezember 2025

Anmelder: HITACHI HIGH-TECH CORPORATION, ROCHE DIAGNOSTICS GMBH 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2025258698
Aktenzeichen: EP25822308
Anmeldetag: 13. Juni 2025
Veröffentlichung: 18. Dezember 2025
Rechtsraum: WO
IPC: G01N35/00G01N21/69G01N35/08

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: HITACHI HIGH-TECH CORPORATION
ROCHE DIAGNOSTICS GMBH
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hitachi High-Tech Corporation

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

3.840 Patente in unserer Datenbank

🇩🇪 Roche Diagnostics

Deutsche Tochtergesellschaft des Schweizer Roche-Konzerns mit Sitz in Mannheim, spezialisiert auf Entwicklung und Herstellung von Diagnostiksystemen, Labortests und medizinischen Analysegeräten.

4.175 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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