Full plane diffraction based digital holography metrology system and method

WO2025261702 Art A1 26. Dezember 2025

Anmelder: ASML NETHERLANDS B.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2025261702
Aktenzeichen: EP25728319
Anmeldetag: 21. Mai 2025
Veröffentlichung: 26. Dezember 2025
Rechtsraum: WO
IPC: G03F7/00G01N21/956

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: ASML NETHERLANDS B.V.
Land: 🇳🇱 Niederlande

🇳🇱 ASML

Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik

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