Verfahren zur Bestimmung von Eigenschaften einer Halbleiterschichtstruktur

WO2026003275 Art A1 2. Januar 2026

Anmelder: FRAUNHOFER-GESELLSCHAFT ZUR FÖRDERUNG DER ANGEWAND 🇩🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2026003275
Aktenzeichen: EP25735976
Anmeldetag: 27. Juni 2025
Veröffentlichung: 2. Januar 2026
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/31G01N21/55G01N21/84G01N21/64G06N3/02G06N3/08G06N20/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: FRAUNHOFER-GESELLSCHAFT ZUR FÖRDERUNG DER ANGEWAND
Land: 🇩🇪 Deutschland

🇩🇪 Fraunhofer-Gesellschaft

Deutsche gemeinnützige Forschungsorganisation mit Sitz in München. Betreibt anwendungsorientierte Forschung in Technik und Naturwissenschaften über zahlreiche Institute für Industrie und Gesellschaft.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung

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