Dimension measurement device, dimension measurement method, and semiconductor device manufacturing system

WO2026003964 Art A1 2. Januar 2026

Anmelder: HITACHI HIGH-TECH CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2026003964
Aktenzeichen
EP24944631
Anmeldetag
25. Juni 2024
Veröffentlichung
2. Januar 2026
Rechtsraum
WO
IPC
G01B15/00H10W72/00
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
HITACHI HIGH-TECH CORPORATION
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Hitachi High-Tech Corporation

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

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