Dual comb radiation source and heterodyne detection for alignment metrology
WO2026008250
Art A1
8. Januar 2026
Anmelder: CYMER, LLC, ASML NETHERLANDS B.V. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2026008250
- Aktenzeichen
- EP25733334
- Anmeldetag
- 6. Juni 2025
- Veröffentlichung
- 8. Januar 2026
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G03F7/20G03F9/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- CYMER, LLC
ASML NETHERLANDS B.V. - Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Cymer
Cymer ist ein US-amerikanisches Unternehmen für Lichtquellen zur Halbleiterlithografie, das zum ASML-Konzern gehört. Das Patentportfolio konzentriert sich sehr stark auf Halbleiter und elektrische Bauelemente sowie Optik und Fototechnik. Anmeldungen laufen kontinuierlich seit dem Jahr 2000.
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🇳🇱
ASML
Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.
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