An x-ray inspection apparatus and method for semiconductor wafers and an x-ray shield for the apparatus

WO2026009183 Art A1 8. Januar 2026

Anmelder: NORDSON CORPORATION 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2026009183
Aktenzeichen
EP25740886
Anmeldetag
3. Juli 2025
Veröffentlichung
8. Januar 2026
Rechtsraum
WO
IPC
G01N23/04G01N23/18H01J35/16H10P95/00
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
NORDSON CORPORATION
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 Nordson

Nordson ist ein US-amerikanischer Hersteller von Präzisionsdosier- und Auftragssystemen für die industrielle Fertigung. Das Portfolio konzentriert sich auf Verfahrens- und Trenntechnik, ergänzt durch Kunststofftechnik, Verpackung sowie Mess- und Prüfsysteme, etwa für die Röntgeninspektion von Bauteilen. Anmeldungen sind von 2000 bis in die Gegenwart belegt.

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