An x-ray inspection apparatus and method for semiconductor wafers and an x-ray shield for the apparatus
WO2026009183
Art A1
8. Januar 2026
Anmelder: NORDSON CORPORATION 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2026009183
- Aktenzeichen
- EP25740886
- Anmeldetag
- 3. Juli 2025
- Veröffentlichung
- 8. Januar 2026
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N23/04G01N23/18H01J35/16H10P95/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- NORDSON CORPORATION
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Nordson
Nordson ist ein US-amerikanischer Hersteller von Präzisionsdosier- und Auftragssystemen für die industrielle Fertigung. Das Portfolio konzentriert sich auf Verfahrens- und Trenntechnik, ergänzt durch Kunststofftechnik, Verpackung sowie Mess- und Prüfsysteme, etwa für die Röntgeninspektion von Bauteilen. Anmeldungen sind von 2000 bis in die Gegenwart belegt.
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