Device deviation calculation method, object measurement method, and observation device
Anmelder: STANLEY ELECTRIC CO., LTD., NATIONAL UNIVERSITY CORPORATION CHIBA UNIVERSITY 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2026009967
- Aktenzeichen
- EP25833196
- Anmeldetag
- 3. Juli 2025
- Veröffentlichung
- 8. Januar 2026
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01S17/95G01N15/06
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- STANLEY ELECTRIC CO., LTD.
NATIONAL UNIVERSITY CORPORATION CHIBA UNIVERSITY - Land
- 🇯🇵 Japan
Japanischer Zulieferer, spezialisiert auf Fahrzeugbeleuchtung wie Scheinwerfer und Rücklichter sowie LED- und optoelektronische Bauteile.
891 Patente in unserer Datenbank
National University Corporation Chiba University ist die staatliche Trägerorganisation der japanischen Chiba-Universität mit Sitz in der Präfektur Chiba. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Medizintechnik sowie Pharma und Biotechnologie, ergänzt um Mess- und Prüftechnik und organische Chemie. Anmeldungen erfolgen seit 2005 bis in die Gegenwart.
395 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Kein Vertreter erfasst.