Microparticle measuring system and microparticle measuring method
WO2026013993
Art A1
15. Januar 2026
Anmelder: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2026013993
- Aktenzeichen
- EP25836560
- Anmeldetag
- 19. März 2025
- Veröffentlichung
- 15. Januar 2026
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N15/06G01N15/00G01N15/0227G01N21/17
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Toshiba
Japanischer Konzern, der Elektronik, Halbleiter, Energie- und Infrastrukturtechnik sowie Industrieanlagen entwickelt und herstellt.
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