Defect detection method and method for manufacturing multilayer ceramic electronic component including same
WO2026018582
Art A1
22. Januar 2026
Anmelder: MURATA MANUFACTURING CO., LTD. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2026018582
- Aktenzeichen
- EP25840682
- Anmeldetag
- 2. Juni 2025
- Veröffentlichung
- 22. Januar 2026
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01G13/00G01N21/892
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- MURATA MANUFACTURING CO., LTD.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Murata Manufacturing
Japanisches Elektronikunternehmen mit Sitz in Kyoto. Murata entwickelt und produziert elektronische Bauelemente wie Kondensatoren, Sensoren und Kommunikationsmodule für Elektronikgeräte.
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Vertreten von
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