Layered structure, method for manufacturing same, and semiconductor device
WO2026018667
Art A1
22. Januar 2026
Anmelder: NATIONAL INSTITUTE OF ADVANCED INDUSTRIAL SCIENCE 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2026018667
- Aktenzeichen
- EP25840618
- Anmeldetag
- 30. Juni 2025
- Veröffentlichung
- 22. Januar 2026
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H10D64/60C30B29/52H10D30/67
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- NATIONAL INSTITUTE OF ADVANCED INDUSTRIAL SCIENCE
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
Staatliches japanisches Forschungsinstitut (AIST), das breit angelegte angewandte Forschung in Bereichen wie Materialwissenschaft, Energie, Elektronik und Biotechnologie betreibt.
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Vertreten von
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