Hexagon Technology Center Patente
🇨🇭 Schweiz
Schweizer Tochterunternehmen der Hexagon-Gruppe, das geistiges Eigentum für Messtechnik, Sensorik und Positionierungslösungen hält, eingesetzt in Vermessung, Industrieautomation und Geodatentechnik.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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443 gesamt| Patent | |||
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06.12.2023
Benutzerschnittstelle mit Beweglichen Mini-Registerkarten
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08.11.2023
Schnellpositionier-Zeichnungssystem und -Verfahren
EP4272105
Software & Datenverarbeitung
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08.11.2023
Vermessungsvorrichtung mit einem Koaxialen Strahlumlenkelement
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01.11.2023
Verfahren zur Qualitätskontrolle von Werkstücken sowie Koordinatenmessgerät und Computerprogramm
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Status
Angemeldet am 13.01.2020
Erteilt am 01.11.2023
Vertretung
Zusammenfassung
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Qualitätskontrolle von Werkstücken mit verschiedenen Merkmalen und/oder verschiedenen Merkmalsparametern, bei dem eine Stichprobenprüfung der Merkmale und/oder Merkmalsparameter durchgeführt wird, bei dem Gruppen von Merkmalen und/oder Merkmalsparametern festgelegt werden, und bei dem für sämtliche Merkmale und/oder Merkmalsparameter einer Gruppe die Prüfvorschrift in Abhängigkeit von dem Ergebnis der Messung des vorhergehenden Loses festgelegt wird. |
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25.10.2023
Oct Vermessung
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Zusammenfassung
Die Erfindung betrifft ein optisches System (1), insbesondere einen OCT-Scanner, mit einer Optischen Kohärenz Tomographie-(OCT-) Messeinrichtung und einer Strahlablenkeinheit zur lateralen Positions- und/oder Winkelablenkung eines Strahlengangs der OCT-Messeinrichtung.Entsprechend der Erfindung befindet sich im Strahlengang eine optische Komponente, welche derart ausgebildet ist, dass, in Abhängigkeit von der lateralen Position des abgelenkten Strahlengangs auf der optischen Komponente, ein Rückreflex der optischen Komponente in seiner, entlang des Strahlengangs longitudinalen Lage unterschiedlich ausgestaltet ist.Das optische System weist eine Auswerteeinheit auf, welche derart ausgebildet ist, dass ein Wert der lateralen Positions- und/oder Winkelablenkung der Strahlablenkeinheit anhand einer von der OCT-Messeinrichtung bestimmten longitudinalen Lage des Rückreflex an der optischen Komponente bestimmbar ist. |
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11.10.2023
Optoelektronische Messvorrichtung mit Abtastfunktionalität
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04.10.2023
Koordinatenmessmaschine mit Riementriebgeführtem Sondenkopf
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Status
Angemeldet am 03.08.2015
Erteilt am 04.10.2023
Vertretung
Gyaja, Christoph Benjamin · Vaduz
Kaminski Harmann · Vaduz
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13.09.2023
Anlagenüberwachungssysteme und -Verfahren
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06.09.2023
Gelenkarm-Kmg-System
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30.08.2023
Schwimmende Editierbare Grafische Überlagerung mit 3D-Modellobjekteigenschaften
EP4232930
Software & Datenverarbeitung
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23.08.2023
Systeme und Verfahren zur Bestimmung von Stützstrukturen in der Generativen Fertigung
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16.08.2023
Os-Optimierte Arbeitsflusszuteilung
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16.08.2023
Maschinengeometrieüberwachung
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Zusammenfassung
The invention relates to a machine state monitoring system (2) for recurrently determining a change in static and/or dynamic properties of a geometry of a machine (1). The machine (1) is configured with positional encoders (4) to derive a coordinate information of at least a first machine portion (5) with respect to a second machine portion (3), which are movable with respect to one another by a motorized drive unit (13).According to the invention, the monitoring system (2) comprises at least one calibration-monitoring-unit (6) with an optical, at least two-dimensional measuring location sensing unit which is fixed to the first machine portion (5) and configured to optically sense an at least two dimensional location information of an artifact (3) which is provided at the second machine portion (3), and which artifact is temporarily moved into a sensing range of the calibration-monitoring-unit (6) for determining the change in the static and/or dynamic properties of the geometry of the machine (1) by a comparison of multiple of such sensings, in particular multiple times in the course of a regular operation of the machine.The monitoring system (2) is therein configured to update compensation parameters of a model or map of the geometry of the machine (1) which is used to derive the coordinate information from the encoders (12). |
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09.08.2023
Ml zur Prozessüberwachung
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02.08.2023
Elektrooptisches Flugzeitentfernungsmessgerät mit einer Empfängerkette
EP4220219
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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19.07.2023
Mehrstrahllaserscanner
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05.07.2023
Dynamische Modellierung von Cmms zur Numerischen Korrektur von Messergebnissen
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05.07.2023
Vermessungssystem
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Status
Angemeldet am 05.05.2014
Erteilt am 05.07.2023
Vertretung
Gyaja, Christoph Benjamin · Vaduz
Kaminski Harmann · Vaduz
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28.06.2023
Benutzerschnittstelle für Symbolleistennavigation
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Status
Angemeldet am 16.01.2014
Erteilt am 28.06.2023
Vertretung
Gyaja, Christoph Benjamin · Vaduz
Kaminski Harmann · Vaduz
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28.06.2023
Optoelektronisches Entfernungsmessmodul für eine Vermessungsvorrichtung mit Impulskompression durch Kreuzkorrelation für ein Bipolares Empfängerausgangssignal
EP4202481
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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21.06.2023
Metrologiesystem
EP4198449
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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14.06.2023
Stromnetzverwaltung
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14.06.2023
Mobile Realitätserfassungsvorrichtung mit Bewegungszustandserkennung zur Bereitstellung von Rückkopplung zur Erzeugung von 3D-Messdaten
EP4194805
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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24.05.2023
Temperaturkompensation für Flüssige Linsen
EP4184224
Optik & Fototechnik
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03.05.2023
Opto-Elektronisches Vermessungsgerät mit Scanfunktionalität
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12.04.2023
Chargenproduktionssystem und Chargenproduktionsverfahren
EP4163743
Steuerungs- & Regelungstechnik
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22.03.2023
Automatisches Auffinden von Zielmarken
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22.03.2023
Sensorelement zur Signalisierung und Bestimmung einer Auslenkung eines Taststifts und zur Verwendung in einem Tastsystem
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08.03.2023
System zur Abbildung von Modell, Kosten und Terminplanung von Grosskapitalprojekten
EP4143757
Software & Datenverarbeitung
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01.03.2023
System zur Steuerung des Zugriffs auf Digitale Daten und Algorithmen
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15.02.2023
Vorrichtung zur Messung von Relativen Höhen
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08.02.2023
Nivelliersensor
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08.02.2023
Verfahren und System zur Zuweisung von Speziellen Klassen von Interesse in Messdaten
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01.02.2023
Selbstzentrierendes Objektivgehäuse und Objektiv für eine Metrologische Kamera
EP4124896
Optik & Fototechnik
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18.01.2023
Verfahren und System zur Bestimmung Räumlicher Koordinaten mit einer Mobilen Koordinatenmessmaschine
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Status
Angemeldet am 13.08.2013
Erteilt am 18.01.2023
Vertretung
Gyaja, Christoph Benjamin · Vaduz
Kaminski Harmann · Vaduz
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11.01.2023
Systeme und Verfahren zur Automatisierten Vorhersage eines Bearbeitungsablaufs in der Computergestützten Fertigung
EP4115249
Steuerungs- & Regelungstechnik
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11.01.2023
Messgerät zur Geometrischen 3D-Abtastung einer Umgebung mit einer Vielzahl Sendekanäle und Semiconductor-Photomultiplier Sensoren
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21.12.2022
Elektrooptischer Distanzmesser und Distanzmessverfahren
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Status
Angemeldet am 18.09.2014
Erteilt am 21.12.2022
Vertretung
Gyaja, Christoph Benjamin · Vaduz
Kaminski Harmann · Vaduz
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21.12.2022
Verfahren, System und Computerprogrammprodukt zur Bestimmung eines Absoluten Volumens einer Halde mit einem Structure-From-Motion-Algorithmus
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Angemeldet am 22.07.2013
Erteilt am 21.12.2022
Vertretung
Gyaja, Christoph Benjamin · Vaduz
Kaminski Harmann · Vaduz
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30.11.2022
System zur Steuerung des Zugriffs auf Digitale Daten und Algorithmen
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Wer vertritt Hexagon Technology Center?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Hexagon Technology Center vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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