Verfahren zur Bestimmung der Ladungsträgerdichte in Materialien, Besonders in Halbleitern
EP1144987
Art A1
17. Oktober 2001
Anmelder: Koninklijke Philips Electronics N.V., Philips Electron Optics 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1144987
- Aktenzeichen
- EP00969392
- Anmeldetag
- 3. Oktober 2000
- Veröffentlichung
- 17. Oktober 2001
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N23/20
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Koninklijke Philips Electronics N.V.
Philips Electron Optics - Land
- 🇳🇱 Niederlande
🇳🇱
Philips
Niederländisches Technologieunternehmen mit Sitz in Amsterdam, spezialisiert auf Medizintechnik, Diagnosegeräte, Patientenüberwachung sowie Gesundheits- und Wellnessprodukte.
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Fachgebiete
Vertreten von
Cohen, Julius Simon
Eindhoven, Niederlande
535
Patente gesamt
23
Fachgebiete
3
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
Bakker, Hendrik
NoneEindhoven