Methode und Gerät zur Simultanen Messung mehrerer Eigenschaften von Mehrschichtigen Filmen
EP1144992
Art A2
17. Oktober 2001
Anmelder: Advanced Metrology Systems LLC, Advanced Metrology Systems, LLC, Koninklijke Philips Electronics N.V. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1144992
- Aktenzeichen
- EP00956190
- Anmeldetag
- 17. Juli 2000
- Veröffentlichung
- 17. Oktober 2001
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N29/24
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Advanced Metrology Systems LLC
Advanced Metrology Systems, LLC
Koninklijke Philips Electronics N.V. - Land
- 🇺🇸 USA
🇳🇱
Philips
Niederländisches Technologieunternehmen mit Sitz in Amsterdam, spezialisiert auf Medizintechnik, Diagnosegeräte, Patientenüberwachung sowie Gesundheits- und Wellnessprodukte.
43.499 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Hackett, Sean James
Birmingham, Großbritannien
646
Patente gesamt
33
Fachgebiete
22
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
van der Veer, Johannis Leendert
NoneEindhoven
-
Bakker, Hendrik
NoneEindhoven