Verfahren zur Funktionsüberprüfung von Speicherzellen eines Integrierten Halbleiterspeichers

EP1149384 Art A1 31. Oktober 2001

Anmelder: Infineon Technologies AG 🇩🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP1149384
Aktenzeichen: EP00908966
Anmeldetag: 1. Februar 2000
Veröffentlichung: 31. Oktober 2001
Rechtsraum: EP
IPC: G11C29/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Infineon Technologies AG
Land: 🇩🇪 Deutschland

🇩🇪 Infineon Technologies

Deutscher Halbleiterkonzern mit Sitz in Neubiberg bei München, hervorgegangen aus Siemens. Entwickelt und fertigt Halbleiter und Systemlösungen für Automobil-, Industrie- und Sicherheitsanwendungen.

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Fachgebiete

Akustik, Musik & Datenspeicherung

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