Abscheidung amorpher Siliziumschichten bei niedrigen Temperaturen mittels CVD mit hoher Plasmadichte

EP1170397 Art A3 10. Dezember 2003

Anmelder: Applied Materials, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP1170397
Aktenzeichen
EP01305828
Anmeldetag
5. Juli 2001
Veröffentlichung
10. Dezember 2003
Rechtsraum
EP
IPC
C23C16/24C23C16/507H01L21/205
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
Applied Materials, Inc.
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 Applied Materials

US-amerikanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien. Applied Materials entwickelt Fertigungsanlagen und Prozesstechnologien für die Halbleiter-, Display- und Solarindustrie, unter anderem für Beschichtung, Ätzen und Materialabscheidung.

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