Scheibe zur Überprüfung der Bearbeitbarkeit der Scheibenperipherie und Methode zur Bestimmung der Bearbeitbarkeit der Scheibenperipherie
EP1178525
Art A1
6. Februar 2002
Anmelder: Shin-Etsu Handotai Co., Ltd., Shin-Etsu Handotai Co., Ltd 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1178525
- Aktenzeichen
- EP00987712
- Anmeldetag
- 22. Dezember 2000
- Veröffentlichung
- 6. Februar 2002
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01L21/304H01L21/66H01L21/02
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Shin-Etsu Handotai Co., Ltd.
Shin-Etsu Handotai Co., Ltd - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Shin-Etsu Handotai
Japanisches Unternehmen der Shin-Etsu-Gruppe, das Siliziumwafer für die Halbleiterindustrie herstellt.
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