Schaltungszelle zur Testmuster-Generierung und Testmuster-Kompression
EP1221097
Art B1
21. April 2004
Anmelder: Infineon Technologies AG 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1221097
- Aktenzeichen
- EP00975862
- Anmeldetag
- 10. Oktober 2000
- Veröffentlichung
- 21. April 2004
- Erteilung
- 21. April 2004
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G06F11/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Infineon Technologies AG
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Infineon Technologies
Deutscher Halbleiterkonzern mit Sitz in Neubiberg bei München, hervorgegangen aus Siemens. Entwickelt und fertigt Halbleiter und Systemlösungen für Automobil-, Industrie- und Sicherheitsanwendungen.
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Reinhard - Skuhra - Weise & Partner
Reinhard - Skuhra - Weise & Partner · München