Testvorrichtung für ein Halbleiterbauelement
EP1247107
Art B1
8. Oktober 2003
Anmelder: Infineon Technologies AG 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1247107
- Aktenzeichen
- EP00991108
- Anmeldetag
- 20. Dezember 2000
- Veröffentlichung
- 8. Oktober 2003
- Erteilung
- 8. Oktober 2003
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R1/04G01R31/316
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Infineon Technologies AG
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Infineon Technologies
Deutscher Halbleiterkonzern mit Sitz in Neubiberg bei München, hervorgegangen aus Siemens. Entwickelt und fertigt Halbleiter und Systemlösungen für Automobil-, Industrie- und Sicherheitsanwendungen.
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