Monitor, Überwachungsmethode, Poliermaschine, und Herstellungsmethode für eine Halbleiterscheibe
EP1255286
Art A1
6. November 2002
Anmelder: NIKON CORPORATION, Nikon Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1255286
- Aktenzeichen
- EP00981828
- Anmeldetag
- 19. Dezember 2000
- Veröffentlichung
- 6. November 2002
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01L21/304B24B37/04B24B49/12B24D7/12
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- NIKON CORPORATION
Nikon Corporation - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Nikon
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Nikon entwickelt optische Geräte und Präzisionstechnik, darunter Kameras, Objektive, Mikroskope sowie Lithografie- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung.
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