Verfahren zur Erhöhung der Messinformation eines Elektronenmikroskopes und Elektronenmikroskop
EP1257780
Art A1
20. November 2002
Anmelder: FEI Company, Nanofactory Instruments AB 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1257780
- Aktenzeichen
- EP01906496
- Anmeldetag
- 20. Februar 2001
- Veröffentlichung
- 20. November 2002
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01B7/34G01B21/30H01J37/26
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- FEI Company
Nanofactory Instruments AB - Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
FEI Company
US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.
506 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Hammond, Andrew
Göteborg, Schweden
71
Patente gesamt
23
Fachgebiete
6
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
Valea AB
Valea AB · Göteborg
-
Lind, Urban
NoneGöteborg