Verfahren und Vorrichtung zur Fehleranalyse von physikalischen Teilobjekten, welche in einem physikalischen Objekt in Form einer Matrix angeordnet sind, computerlesbares Speichermedium und Computerprogramm-Element
EP1265255
Art B1
16. März 2005
Anmelder: Infineon Technologies AG 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1265255
- Aktenzeichen
- EP02012628
- Anmeldetag
- 6. Juni 2002
- Veröffentlichung
- 16. März 2005
- Erteilung
- 16. März 2005
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G11C29/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Infineon Technologies AG
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Infineon Technologies
Deutscher Halbleiterkonzern mit Sitz in Neubiberg bei München, hervorgegangen aus Siemens. Entwickelt und fertigt Halbleiter und Systemlösungen für Automobil-, Industrie- und Sicherheitsanwendungen.
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