Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Dicke nichtmetallischer Schichten mit Hilfe einer Halbleiter-Infrarotstrahlungsquelle
EP1271096
Art A1
2. Januar 2003
Anmelder: ELECTRONIC SYSTEMS S.P.A. 🇮🇹
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1271096
- Aktenzeichen
- EP01830405
- Anmeldetag
- 18. Juni 2001
- Veröffentlichung
- 2. Januar 2003
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01B11/06
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ELECTRONIC SYSTEMS S.P.A.
- Land
- 🇮🇹 Italien
Fachgebiete
Kanzlei
Mar.Bre S.r.l
Fabriano, Italien
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192
Patente gesamt
1
Patentanwälte
1
Standorte
Weitere Vertreter
-
Carimati, Silvia
NoneMonza