Vorrichtung zur Analyse eines Schnittbildes eines vorderen Augenbereichs

EP1275337 Art B1 25. August 2010

Anmelder: Nidek Co., Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP1275337
Aktenzeichen
EP02014982
Anmeldetag
9. Juli 2002
Veröffentlichung
25. August 2010
Erteilung
25. August 2010
Rechtsraum
EP
IPC
A61B3/117A61B3/14
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Nidek Co., Ltd.
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Nidek

Nidek ist ein japanischer Hersteller ophthalmologischer Geräte, etwa für Diagnostik und Laserbehandlung am Auge. Das Patentportfolio konzentriert sich entsprechend auf Medizintechnik und Gesundheit, ergänzt durch Werkzeug-, Fertigungs- und Drucktechnik sowie Optik und Fototechnik. Anmeldungen erstrecken sich von 2000 bis 2025.

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