Vorrichtung zur Untersuchung von Halbleiter-Wafern und Masken, die ein Niederenergie-Elektronenmikroskop mit Zwei Beleuchtungsstrahlen Verwenden

EP1290430 Art B1 12. November 2014

Anmelder: KLA-Tencor Corporation 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP1290430
Aktenzeichen
EP01939046
Anmeldetag
14. Mai 2001
Veröffentlichung
12. November 2014
Erteilung
12. November 2014
Rechtsraum
EP
IPC
H01J37/26
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
KLA-Tencor Corporation
Land
🇺🇸 USA
Kanzlei
Kancelaria Patentowa Lukaszyk

Gegründet 1992 in Chorzów bei Katowice, kurz nach Öffnung der privaten Anwaltstätigkeit in Polen. Verbindet juristische mit naturwissenschaftlich-technischer Expertise von Chemie und Pharmazie bis Gentechnik und Nanotechnologie und begleitet Patent- sowie internationale PCT- und EPA-Verfahren.

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