In-Situ-Diffusionsbarriere und Kupfermetallisierung zur Verbesserung der Verlässlichkeit von Halbleitervorrichtungen
Anmelder: Polaris Innovations Limited, Infineon Technologies AG, Qimonda AG i.IN., Infineon Technologies North America Corp. 🇮🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1292977
- Aktenzeichen
- EP01946617
- Anmeldetag
- 21. Juni 2001
- Veröffentlichung
- 19. März 2003
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01L21/768
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Polaris Innovations Limited
Infineon Technologies AG
Qimonda AG i.IN.
Infineon Technologies North America Corp. - Land
- 🇮🇪 Irland
Deutscher Halbleiterkonzern mit Sitz in Neubiberg bei München, hervorgegangen aus Siemens. Entwickelt und fertigt Halbleiter und Systemlösungen für Automobil-, Industrie- und Sicherheitsanwendungen.
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Infineon Technologies North America ist die US-amerikanische Tochtergesellschaft des deutschen Halbleiterkonzerns Infineon Technologies. Das Patentportfolio konzentriert sich stark auf Halbleiter und elektrische Bauelemente sowie Datenspeicherung und Schaltungstechnik. Anmeldungen reichen von 2000 bis 2015.
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