Verfahren zur Erfassung des Wellenlängenabhängigen Verhaltens einer Beleuchteten Probe
EP1307726
Art B2
25. Juni 2014
Anmelder: Carl Zeiss Microscopy GmbH, Carl Zeiss MicroImaging GmbH, CARL ZEISS JENA GmbH 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1307726
- Aktenzeichen
- EP01974113
- Anmeldetag
- 4. August 2001
- Veröffentlichung
- 25. Juni 2014
- Erteilung
- 25. Juni 2014
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01J3/02B82Y20/00B82Y35/00G01J3/10G01J3/18G01J3/28G01J3/42G01Q60/22G01N21/64G02B21/00G02B21/16
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Carl Zeiss Microscopy GmbH
Carl Zeiss MicroImaging GmbH
CARL ZEISS JENA GmbH - Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Carl Zeiss Microscopy GmbH
Deutscher Hersteller von Mikroskopen und Bildgebungssystemen für Forschung und Industrie, Teil der Zeiss-Gruppe.
609 Patente in unserer Datenbank
🇩🇪
Carl Zeiss Jena
Carl Zeiss Jena GmbH ist eine Gesellschaft der Zeiss-Gruppe mit Sitz im thüringischen Jena, dem historischen Kernstandort des Optikkonzerns. Das Patentportfolio ist stark auf Optik und Fototechnik konzentriert, ergänzt um Mess- und Prüftechnik sowie Beleuchtungstechnik. Anmeldungen erfolgen kontinuierlich seit 2000.
388 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Hampe, Holger
Jena, Deutschland
91
Patente gesamt
6
Fachgebiete
1
Anmelder-Länder
Schwerpunkte