Hampe, Holger
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Patente
91 gesamt| Patent | |||
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19.02.2025 · Carl Zeiss Microscopy GmbH
Hochauflösendes Mikroskop und Verfahren zur Zwei- oder Dreidimensionalen Positionsbestimmung von Objekten
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 14.12.2010
Erteilt am 19.02.2025
Vertretung
Meyer, Jork · Jena
Hampe, Holger · Jena
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06.11.2024 · Carl Zeiss Microscopy GmbH
Mikroskop und Verfahren zur SPIM Mikroskopie
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 17.12.2014
Erteilt am 06.11.2024
Vertretung
Loritz, Rainer · Jena
Hampe, Holger · Jena
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21.06.2023 · Carl Zeiss Microscopy GmbH
Verfahren zur Erzeugung eines Mikroskopbildes und Mikroskop
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 28.08.2010
Erteilt am 21.06.2023
Vertretung
Loritz, Rainer · Jena
Hampe, Holger · Jena
Zusammenfassung
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21.12.2022 · Carl Zeiss Microscopy GmbH
Verfahren zur 3D-hochauflösenden Lokalisierungsmikroskopie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 13.05.2014
Erteilt am 21.12.2022
Vertretung
Loritz, Rainer · Jena
Hampe, Holger · Jena
Zusammenfassung
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26.01.2022 · Carl Zeiss Microscopy GmbH
Hochauflösende Scanning-Mikroskopie
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 18.09.2014
Erteilt am 26.01.2022
Vertretung
Breit, Ulrich · München
Hampe, Holger · Jena
Zusammenfassung
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22.09.2021 · Carl Zeiss Microscopy GmbH
Verfahren zur 3D-hochauflösenden Lokalisierungsmikroskopie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 13.05.2014
Erteilt am 22.09.2021
Vertretung
Meyer, Jork · Jena
Hampe, Holger · Jena
Zusammenfassung
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28.07.2021 · Carl Zeiss Microscopy GmbH
Hochauflösende Scanning-Mikroskopie
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 18.09.2014
Erteilt am 28.07.2021
Vertretung
Loritz, Rainer · Jena
Hampe, Holger · Jena
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27.01.2021 · Carl Zeiss Microscopy GmbH
Vorrichtung und Verfahren zum Räumlichen Hochauflösenden Abbilden einer Struktur einer Probe
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 03.02.2009
Erteilt am 27.01.2021
Vertretung
Hampe, Holger · Jena
Loritz, Rainer · Jena
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29.07.2020 · Carl Zeiss Microscopy GmbH
Laser-Scanning-Mikroskop mit Umschaltbarer Betriebsweise
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 29.09.2011
Erteilt am 29.07.2020
Vertretung
Loritz, Rainer · Jena
Hampe, Holger · Jena
Zusammenfassung
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03.06.2020 · Carl Zeiss Microscopy GmbH
Mikroskop und Verfahren zur Spim Mikroskopie
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 26.06.2013
Erteilt am 03.06.2020
Vertretung
Loritz, Rainer · Jena
Hampe, Holger · Jena
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Vertretene Patentanmelder
Die Patentanmelder, die Hampe, Holger in den erfassten Patenten am häufigsten vertritt.
| Anmelder | Anzahl Patente |
|---|---|
| 1. Carl Zeiss Microscopy GmbH | 47 |
| 2. Carl Zeiss Jena | 28 |
| 3. Tokyo Seimitsu | 1 |
Patente nach Jahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung: so viele Anmeldungen sind für das Jahr insgesamt zu erwarten.