Verfahren zur Überwachung von Strahlmittel Emittierenden Oberflächenbehandlungseinrichtungen und Strahlbildkontrollvorrichtung

EP1332348 Art B1 3. Januar 2007

Anmelder: Schlick, Jennifer 🇩🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP1332348
Aktenzeichen
EP01982477
Anmeldetag
10. November 2001
Veröffentlichung
3. Januar 2007
Erteilung
3. Januar 2007
Rechtsraum
EP
IPC
G01K3/14
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Schlick, Jennifer
Land
🇩🇪 Deutschland
Kanzlei
Schulze Horn Münster, Deutschland

Fachanwaltskanzlei Schulze Horn für gewerblichen Rechtsschutz mit Sitz in Münster, geführt von Rechtsanwältin Kathrin Schulze Horn.

57
Patente gesamt
1
Patentanwälte
1
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