System mit einem Fokussierten Ionenstrahl
EP1332509
Art A1
6. August 2003
Anmelder: FEI COMPANY 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1332509
- Aktenzeichen
- EP01987944
- Anmeldetag
- 17. Oktober 2001
- Veröffentlichung
- 6. August 2003
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01J37/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- FEI COMPANY
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
FEI Company
US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.
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Vertreten von
Bakker, Hendrik
Eindhoven, Niederlande
618
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28
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4
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