Sem mit einem Sekundärelektronendetektor mit einer Zentralelektrode
EP1350259
Art B1
25. August 2004
Anmelder: FEI COMPANY, Koninklijke Philips Electronics N.V. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1350259
- Aktenzeichen
- EP01272142
- Anmeldetag
- 10. Dezember 2001
- Veröffentlichung
- 25. August 2004
- Erteilung
- 25. August 2004
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01J37/28H01J37/244
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- FEI COMPANY
Koninklijke Philips Electronics N.V. - Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
FEI Company
US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.
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🇳🇱
Philips
Niederländisches Technologieunternehmen mit Sitz in Amsterdam, spezialisiert auf Medizintechnik, Diagnosegeräte, Patientenüberwachung sowie Gesundheits- und Wellnessprodukte.
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Fachgebiete
Vertreten von
Bakker, Hendrik
Eindhoven, Niederlande
618
Patente gesamt
28
Fachgebiete
4
Anmelder-Länder
Schwerpunkte