Teststruktur zur Messung des Kontakt-Gate-Abstandes in nichtflüchtigen Speichern und zugehöriges Testverfahren
EP1367597
Art B1
3. August 2005
Anmelder: STMicroelectronics Srl, STMicroelectronics S.r.l. 🇮🇹
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1367597
- Aktenzeichen
- EP02425360
- Anmeldetag
- 31. Mai 2002
- Veröffentlichung
- 3. August 2005
- Erteilung
- 3. August 2005
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G11C29/00
Abstract
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Anmelder
- Firmen
- STMicroelectronics Srl
STMicroelectronics S.r.l. - Land
- 🇮🇹 Italien
🇮🇹
STMicroelectronics Italy
Italienische Konzerngesellschaft des schweizerisch-französischen Halbleiterherstellers STMicroelectronics. Entwickelt und fertigt Halbleiterkomponenten für Automobil-, Industrie- und Konsumelektronik.
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Fachgebiete
Kanzlei
Botti & Ferrari S.p.A
Milano, Italien
Botti & Ferrari wurde 1999 von Fachleuten mit Erfahrung in internationalen IP-Kanzleien gegründet, heute mit Büros in Mailand, Bologna und Brescia, rund die Hälfte der Mandate aus dem Ausland. Anwälte regelmäßig in Einspruchsverfahren vor dem Europäischen Patentamt tätig.
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