Vorrichtung zum Testen einer Gruppe funktionell unabhängiger Speicher und zum Ersetzen defekter Speicherworte

EP1369878 Art A1 10. Dezember 2003

Anmelder: Infineon Technologies AG 🇩🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP1369878
Aktenzeichen
EP02012318
Anmeldetag
4. Juni 2002
Veröffentlichung
10. Dezember 2003
Rechtsraum
EP
IPC
G11C29/00
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Infineon Technologies AG
Land
🇩🇪 Deutschland
🇩🇪 Infineon Technologies

Deutscher Halbleiterkonzern mit Sitz in Neubiberg bei München, hervorgegangen aus Siemens. Entwickelt und fertigt Halbleiter und Systemlösungen für Automobil-, Industrie- und Sicherheitsanwendungen.

4.872 Patente in unserer Datenbank

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen