Vorrichtung zum Testen einer Gruppe funktionell unabhängiger Speicher und zum Ersetzen defekter Speicherworte
EP1369878
Art A1
10. Dezember 2003
Anmelder: Infineon Technologies AG 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1369878
- Aktenzeichen
- EP02012318
- Anmeldetag
- 4. Juni 2002
- Veröffentlichung
- 10. Dezember 2003
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G11C29/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Infineon Technologies AG
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Infineon Technologies
Deutscher Halbleiterkonzern mit Sitz in Neubiberg bei München, hervorgegangen aus Siemens. Entwickelt und fertigt Halbleiter und Systemlösungen für Automobil-, Industrie- und Sicherheitsanwendungen.
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