Verfahren zur Produktion von Inspektionsdaten und Inspektionsgerät für Leiterplatten zur Durchführung des Verfahrens
EP1388738
Art B1
10. Oktober 2012
Anmelder: OMRON CORPORATION, Omron Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1388738
- Aktenzeichen
- EP03017489
- Anmeldetag
- 1. August 2003
- Veröffentlichung
- 10. Oktober 2012
- Erteilung
- 10. Oktober 2012
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R31/302G01R31/28G01R31/309
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- OMRON CORPORATION
Omron Corporation - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Omron
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Omron entwickelt Automatisierungstechnik, Steuerungen, Sensoren und Robotik für die Industrie sowie elektronische Bauteile und medizintechnische Geräte.
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Fachgebiete
Vertreten von
Kilian, Helmut
München, Deutschland
701
Patente gesamt
30
Fachgebiete
10
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Schwerpunkte
Weitere Vertreter
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