Vorrichtung zum Messen eines Oberflächenprofils
EP1423677
Art B1
15. November 2006
Anmelder: Olympus Corporation, Olympus Optical Co., Ltd. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1423677
- Aktenzeichen
- EP02760811
- Anmeldetag
- 5. September 2002
- Veröffentlichung
- 15. November 2006
- Erteilung
- 15. November 2006
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N19/00G01B7/28
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Olympus Corporation
Olympus Optical Co., Ltd. - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Olympus
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Olympus ist auf Medizintechnik spezialisiert, insbesondere Endoskopie- und Bildgebungssysteme, sowie auf wissenschaftliche Instrumente und Präzisionsoptik.
8.021 Patente in unserer Datenbank