Grafische Automatisierte Maschinensteuerung und Metrologie
EP1425729
Art B1
11. Juni 2014
Anmelder: FEI COMPANY, FEI Company 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1425729
- Aktenzeichen
- EP02757340
- Anmeldetag
- 23. August 2002
- Veröffentlichung
- 11. Juni 2014
- Erteilung
- 11. Juni 2014
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G09G5/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- FEI COMPANY
FEI Company - Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
FEI Company
US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.
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Fachgebiete
Vertreten von
Bakker, Hendrik
Eindhoven, Niederlande
618
Patente gesamt
28
Fachgebiete
4
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Schwerpunkte