Verfahren und Vorrichtung zur Inspektion von Oberflächen
Anmelder: Kabushiki Kaisha TOPCON, KABUSHIKI KAISHA TOPCON 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1431752
- Aktenzeichen
- EP03028011
- Anmeldetag
- 6. Dezember 2003
- Veröffentlichung
- 20. September 2006
- Erteilung
- 20. September 2006
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N21/95H01L21/66
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Kabushiki Kaisha TOPCON
KABUSHIKI KAISHA TOPCON - Land
- 🇯🇵 Japan
Topcon ist ein japanischer Hersteller von Mess-, Vermessungs- und ophthalmologischen Geräten sowie Positionierungstechnik. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik sowie Medizintechnik und Gesundheit, ergänzt durch Software und Optik. Anmeldungen erstrecken sich von 2000 bis 2017.
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Louis Pöhlau Lohrentz berät von Nürnberg aus mit ganzheitlichem Verständnis von Schutzrechten, die Partner brachten zuvor Führungsverantwortung in industriellen Patentabteilungen mit. Neben Patenten deckt das Team Marken, Designs und Urheberrecht ab, mit Schwerpunkt Maschinenbau, Chemie und Telekommunikation, und berät auch auf Japanisch und Koreanisch.