Verfahren und Gerät zur Klassifikation von Defekten

EP1462995 Art B1 6. Juni 2007

Anmelder: Hitachi High-Technologies Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP1462995
Aktenzeichen: EP04007117
Anmeldetag: 24. März 2004
Veröffentlichung: 6. Juni 2007
Erteilung: 6. Juni 2007
Rechtsraum: EP
IPC: G06T7/00G06K9/68

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Hitachi High-Technologies Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hitachi High-Tech Corporation

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

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Fachgebiete

Software & Datenverarbeitung

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