System und Verfahren zur Detektion von Fehlern in Fertigungsobjekten
EP1474680
Art B1
6. November 2013
Anmelder: Lockheed Martin Corporation 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1474680
- Aktenzeichen
- EP03715986
- Anmeldetag
- 6. Februar 2003
- Veröffentlichung
- 6. November 2013
- Erteilung
- 6. November 2013
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N29/11G01N29/44G01N29/48G01N29/50
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Lockheed Martin Corporation
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Lockheed Martin
US-amerikanischer Luft- und Raumfahrt- sowie Rüstungskonzern mit Sitz in Maryland, tätig in Entwicklung von Kampfflugzeugen, Raketensystemen, Satelliten und Verteidigungstechnik.
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Fachgebiete
Vertreten von
Meier, Frank
Hamburg, Deutschland
98
Patente gesamt
23
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6
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