Verbesserte Räumliche Wellenfrontanalyse und 3D-Messung

EP1476715 Art B1 10. Oktober 2018

Anmelder: ICOS VISION SYSTEMS N.V., Nano-Or Technologies (Israel) Ltd. 🇧🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP1476715
Aktenzeichen
EP02777760
Anmeldetag
16. Oktober 2002
Veröffentlichung
10. Oktober 2018
Erteilung
10. Oktober 2018
Rechtsraum
EP
IPC
G01B9/02G01J9/02G11B7/005G11B7/24088
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen
ICOS VISION SYSTEMS N.V.
Nano-Or Technologies (Israel) Ltd.
Land
🇧🇪 Belgien

Fachgebiete

Akustik, Musik & Datenspeicherung Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Vertreten von
Moens, Marnix Karel Christiane Everberg, Belgien
74
Patente gesamt
24
Fachgebiete
6
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Kunststoff- & Polymertechnik Verpackungs- & Fördertechnik Verfahrens- & Trenntechnik Farben, Klebstoffe & Brennstoffe Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Anzeige-, Signal- & Kontrolltechnik
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