Elektronenmikroskop

EP1492152 Art B1 2. September 2015

Anmelder: JEOL LTD., Jeol System Technology Co., Ltd., JEOL Ltd., Jeol Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP1492152
Aktenzeichen
EP04253856
Anmeldetag
28. Juni 2004
Veröffentlichung
2. September 2015
Erteilung
2. September 2015
Rechtsraum
EP
IPC
H01J37/22H01J37/26
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen
JEOL LTD.
Jeol System Technology Co., Ltd.
JEOL Ltd.
Jeol Ltd.
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 JEOL

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, das wissenschaftliche und industrielle Präzisionsgeräte entwickelt, darunter Elektronenmikroskope, Analysegeräte und Halbleiterfertigungsanlagen.

288 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente
Vertreten von
Cross, Rupert Edward Blount London, Großbritannien
2.091
Patente gesamt
33
Fachgebiete
17
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Halbleiter & Elektrische Bauelemente Nachrichtentechnik & Telekommunikation Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung Elektronik & Schaltungstechnik Metallurgie & Oberflächentechnik
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