Verfahren zur Lokalisierung von Unterbrechungen von auf Flachglas angebrachten Leiterdrähten sowie entsprechende Vorrichtung
EP1500941
Art A1
26. Januar 2005
Anmelder: CENTRAL GLASS COMPANY, LIMITED, Central Glass Company, Limited 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1500941
- Aktenzeichen
- EP03016807
- Anmeldetag
- 23. Juli 2003
- Veröffentlichung
- 26. Januar 2005
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R31/02G01J5/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- CENTRAL GLASS COMPANY, LIMITED
Central Glass Company, Limited - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Central Glass
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, das Flachglas, Spezialglas sowie Fluorchemikalien für Industrie und Bauwesen herstellt.
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